Product Details
IC Test Handler
高精度：采用自主研发的高精密运动平台，保证设备整体运行精度；
高效率：过多工位测试分选，产能根据不同产品最高UPH可达5500PCS；
智能控制：配备智能化双人机界面，操作方便快捷，设备运行实时监测；
兼容性高：通过更换不同的治具即可生产不同产品，同时兼容HT整套Change-kit的安装及使用，满足多样化需求；
高可靠性：采用优质材料和一线品牌，确保设备长期稳定运行，降低维护成本；
双重防呆设计：测试座及飞梭IC交换台X-Y双方向都有传感器检测，避免产品安放不到位而发生检测异常；
扫码功能选配：可选配扫码功能，读取IC上二维码，及kit治具上二维码。
| 设备名称 | 测试分选机 IC Test Handler |
| 设备型号 | WFD-C5000 |
| UPH(Max) | UPH≤5500 (测试时间≤50s) |
| IC尺寸 | Min5*5mm to Max 24*32mm |
| IC类型 | BGA, QFP, QFN, TSOP, TF Card 等 |
| IC接触方式 | Pogo Pin Contact |
| IC Tray | JEDEC Standard |
| Socket清洁 | - |
| 料仓配置 | Auto Load*1; Empty*1; Auto Unload*2; Manual*2 |
| 料仓容量 | 40pcs Tray（Max） |
| JAM Rate | ≤1/4000 |
| 测试温度 | 常温 |
| 测试板总数 | 16个 |
| 测试点总数 | 128DUT |
| Index Time | Ave. 5.2s (16PC) |
| Min Cycle Time | Ave. 83.7s (128DUT) |
| Conversion Time | < 30 minutes |
| 飞梭IC交换台位置检测 | X/Y方向均有感应器检测 |
| 设备尺寸 | L2400 x W1450 x H1800 mm |
| 设备重量 | 2000kg |
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